Štampa

Obaveštenje o NI PXI testnoj stanici

54 NIPXI228.10.2011. - Tagor electronic je na National Instruments konferenciji ‘NIDays 2011’ u Beogradu prezentovao univerzalnu testnu stanicu za automatsko funkcionalno testiranje elektronskih sklopova.

 Funkcionalna kontrola je zasnovana na National Instruments PXI tehnologiji i LabVIEW-u. Na ovaj nacin pruzamo mogucnost  testiranja svih vrsta elektronskih sklopova koriscenjem odgovarajuce konfiguracije univerzalne testne stanice i pisanjem jedinstvenog programskog koda u LabVIEW-u.  Svi elektronski sklopovi sa Tagor CEM proizvodnih linija prolaze kroz funkcionalnu kontrolu na ovoj testnoj stanici cime se redukuje greska na samo 5 ppm-a (pieces per million – pet neispravnih u isporucenih  milion).

NIPXI1